近幾年，半導體照明技術(shù)快速發(fā)展，隨之而來的是半導體照明燈具也得到了很好的發(fā)展。這就要求有相應(yīng)的檢測理論、檢測技術(shù)、檢測儀器、檢測標準對出現(xiàn)的新產(chǎn)品進行檢測和評估。分布式光度計是燈具配光性能測試的主要測量設(shè)備，可用來測量燈具或光源的空間光強分布、總光通量和燈具效率等參數(shù)。

　　

　　分布式光度計需要配合較大的暗室使用，?在房間內(nèi)使用低反射率材料，避免反射光進入探頭。由于測量系統(tǒng)易受環(huán)境溫度的影響，保持光源自身溫度的穩(wěn)定就顯得非常關(guān)鍵。分布光度計按角度進行逐一讀數(shù)，非常耗時。若只需測量燈具的光通量參數(shù)，則對測量距離沒有嚴格要求。

　　

　　根據(jù)測量光路安排不同，分布式光度計測量光通量可以采用照度積分法和光強積分法兩種測量方案。

　　

　　1、照度積分法。對測量距離沒有限制，需要的測量空間較小。只要能測量到照度，即使距離很短，也可以得到的總光通量?？梢允褂镁o湊型分布光度計測量，通過測量光源在空間的照度分布，并對全空間積分得到總光通量。由于對測量距離和光源的安裝位置都不敏感，并且可以避免使用反光鏡，從而能夠?qū)崿F(xiàn)很高的測量精度，是CIE的實現(xiàn)光通量基準單位的方法。

　　

　　2、光強積分法。光強積分法通過測量光源在空間的光強分布，并對全空間積分得到總光通量。測量光強分布需要足夠的距離，能夠把被測物近似看成點光源，利用距離平方反比關(guān)系測量光強。

　　

　　分布式光度計采用一個轉(zhuǎn)動機構(gòu)，等效于使一個光度探頭在一個等半徑的球面上移動，從而測得覆蓋整個球面若干點的光強值，再采用一定的算法，繪制出光強分布圖，即為該燈具的光型。把測量光型與設(shè)計光型比較，從而得出改進方案，或作為判定測試是否合格的依據(jù)。